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石英晶振多层、多金属的溅射镀膜技术:是目前研发及生产高精度、高稳定性石英晶体元器件——温补晶振必须攻克的关键技术之一。石英晶振该选用何镀材、镀几种材料、几种镀材的镀膜顺序,镀膜的工艺方法(如各镀材的功率设计等)。使用此镀膜方法使镀膜后的晶振附着力增强,贴片晶振频率更加集中,能控制在最小ppm之内。
	 
 
	 
 
| 项目 | 符号 | 规格说明 | 条件 | 
| 输出频率范围 | f0 | 32.768K晶振 | 请联系我们以便获取其它可用频率的相关信息 | 
| 电源电压 | VCC | 1.60 V to 3.63 V | 请联系我们以了解更多相关信息 | 
| 储存温度 | T_stg | -55℃to +125℃ | 裸存 | 
| 工作温度 | T_use | G: -40℃to +85℃ | 请联系我们查看更多资料http://www.guanjiedz.com | 
| H: -40℃to +105℃ | |||
| J: -40℃to +125℃ | |||
| 频率稳定度 | f_tol | J: ±50 × 10-6 | 
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| L: ±100 × 10-6 | |||
| T: ±150 × 10-6 | |||
| 功耗 | ICC | 3.5 mA Max. | 无负载条件、最大工作频率 | 
| 待机电流 | I_std | 3.3μA Max. | ST=GND | 
| 占空比 | SYM | 45 % to 55 % | 50 % VCC 极, L_CMOS≦15 pF | 
| 输出电压 | VOH | VCC-0.4V Min. | 
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| VOL | 0.4 V Max. | 
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| 输出负载条件 | L_CMOS | 15 pF Max. | 
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| 输入电压 | VIH | 80% VCCMax. | ST终端 | 
| VIL | 20 % VCCMax. | ||
| 上升/下降时间 | tr / tf | 4 ns Max. | 20 % VCCto 80 % VCC极, L_CMOS=15 pF | 
| 振荡启动时间 | t_str | 3 ms Max. | t=0 at 90 % | 
| 频率老化 | f_aging | ±3 × 10-6/ year Max. | +25 ℃, 初年度,第一年 | 
	 
 
	 
 
	 
 
	 
 
	 
 
	
请测量使用示波器或频率计数器石英晶振的两个端子的信号,如果频率不在规定范围内,它的输出波形的幅度是不够的(例如超过+/-200ppm的),请按照步骤2-3步骤2-5。
The formula for Capacitances versus Frequency is as following:
该公式的电容与频率是如下:
FL = FR * (1 + C1 / 2 * (C0 + CL) ) where
该曲线代表电容变化与频率变化(频率pullability)变化的变化:
	
如果由频率计数器测量的频率比目标频率高,要增加贴片晶振的电容(CL,或Cd以及C 8)的值,以降低频率到目标频率,反之亦然。请检查波形幅度是否改善或没有经过我们调整频率。如果它的改善,这表示该电路的原始设计不是调谐到最佳共振点为晶体的情况。该晶振应正常后,谐振点的调整。如果波形幅度甚至没有提高的频率非常接近目标频率,我们可以通过以下三种方法改进:
方法1:降低产品线路外部电容(Cd和CG)的值,并通过晶体具有较低负载电容(CL)。
方法2:采用小电阻(RR)的晶体。
方法3:使用镉和CG的不等价的设计。
我们可以增加镉(XOUT)的负载电容和降低CG(辛)的负载电容以提高从辛波形幅度将在其后端电路中使用的输出。我们建议您使用上面的方法来节省成本,保证安全。请用频率计数器来测量所述晶体,以确保经调整频率仍然满足原说明书后的波形的振幅进行了改进。如果频率不符合规格,请采用石英晶体合适的CL值为根据您的目标频率。请采用晶振具有较低的CL如果频率比目标频率,反之亦然高得多系统不能正常工作,由于输出频率会偏差很大。
NDK晶振,贴片晶振,NZ2016SH晶振
 
 
日本电波工业株式已经建立和正在推动一项中期计划的具体减排目标,以减少二氧化碳的排放是全球变暖的原因。它也有助于减少(抑制)CO2排放量,通过使用最先进的技术,实现最小化,以及减少石英晶体谐振器,石英晶体的重量和功耗,以支持社会的需要。
日本电波工业株式NDK晶振的新概念的手机贴片晶振,温补晶振,石英晶体振荡器器件。通过贴片晶振,石英晶振等产品生命周期提高整体节能贡献和环境绩效的举措。制造-环境友好生产—优化-提高性能/效率的节能贡献—通过制造致密/复杂产品减少资源节约—环境消除/减少环境负荷物质—2016小型贴片晶振这些是倡议的支柱。
制造业-环保生产—我们将介绍一些情况下,发现CO2排放量的产品生命周期使用环境LCA方法。1.5MHz晶振,NZ2016SF晶振,SMD晶振
日本电波工业株式NDK晶振所说的LCA指的是“生命周期评估”,它包括评估产品的寿命。在这里,产品的生命不仅仅是产品本身的制造阶段,而是包括原料组成产品的零件/材料的开采阶段,包括石英晶体,低电流有源晶振,差分晶振,有源晶振产品的制造阶段,销售阶段,包括到产品交付给用户使用的阶段,包括产品使用由用户和维修/维护参与它,和处置阶段,通过用户废弃产品回收,回收或处置。在ISO14000系列环境标准中也建立了国际标准。NDK晶振,贴片晶振,NZ2016SH晶振
	 
 
	 
 
	


 
 
                        
 NDK晶振,32.768K,NX1610SA晶振
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NDK晶振,贴片晶振,NZ2520SH晶振 FCD-Tech钟表电子晶振,F2012‐50‐9,无线模块6G晶振
FCD-Tech钟表电子晶振,F2012‐50‐9,无线模块6G晶振


